標(biāo)題
：貝克曼(màn)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試(shì)試劑(jì)

產(chǎn)品(pǐn)概(gài)述(shù)

貝(bèi)克曼標準測(cè)試(shì)試劑(jì)，貝克(kè)曼(màn)標準(zhǔn)測(cè)試粉末(mò)，貝(bèi)克曼標(biāo)準粒子(zǐ)。
訂貨(huò)號
：7800370,7800372,7800377,7800499
 

北京聞(wén)易科(kē)技有限公司專業提(tí)供貝克曼各類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)測試(shì)試(shì)劑(jì)。標準粒(lì)子(zǐ)等，如您(nín)需(xū)要的不在本(běn)列表(biǎo)，請致電我司(sī)查(chá)詢(xún)。

貝克(kè)曼庫爾特粒度分(fēn)析(xī)儀係列

• Multisizer 4e 顆(kē)粒/細(xì)胞計數(shù)及(jí)粒度(dù)分(fēn)析儀(yí)
• Multisizer 3顆(kē)粒(lì)/細(xì)胞(bāo)計數及(jí)粒(lì)度分析儀(yí)
• DelsaMax PRO 多(duō)角(jiǎo)度Zeta電位及納(nà)米(mǐ)粒(lì)度(dù)同(tóng)步(bù)分析儀
• DelsaMax CORE 靜態分子量(liáng)與(yǔ)納米粒度(dù)同步(bù)分(fēn)析儀
• SA3100比表(biǎo)麵積及孔徑分析(xī)儀
• LS 13 320 XR 激光(guāng)衍射粒度分(fēn)析(xī)儀(yí)
• LS 13 320係列全新微納米(mǐ)激光(guāng)粒(lì)度(dù)分(fēn)析儀(yí)

粒(lì)度分析的基本概(gài)念

（1）顆粒
：具(jù)有一定尺寸和形(xíng)狀的微小物體，是(shì)組(zǔ)成粉(fěn)體的基本(běn)單元。它(tā)宏觀很(hěn)小，但微觀卻(què)包含大量(liáng)的分子和原(yuán)子；

（2）粒(lì)度
：顆粒的(dí)大小；

（3）粒度分(fēn)布
：用(yòng)一(yī)定的(dí)方(fāng)法反映(yìng)出(chū)一(yī)係列不同粒(lì)徑顆(kē)粒分別(bié)占粉(fěn)體總量的(dí)百分比；

（4）粒(lì)度分布的表示方法
：表(biǎo)格法（區間(jiān)分(fēn)布(bù)和累(léi)積分布(bù)），圖形法，函數法，常見(jiàn)的(dí)有R-R分(fēn)布(bù)，正(zhèng)態(tài)分布等；

（5）粒(lì)徑
：顆粒(lì)的直徑(jìng)，一(yī)般以微(wēi)米(mǐ)為單位；

（6）等(děng)效粒(lì)徑(jìng)
：指當一(yī)個顆粒的(dí)某(mǒu)一物理(lǐ)特性(xìng)與(yǔ)同質(zhì)球(qiú)形顆(kē)粒(lì)相(xiāng)同或相(xiāng)近(jìn)時，我們就(jiù)用(yòng)該球(qiú)形(xíng)顆(kē)粒(lì)的直(zhí)

徑(jìng)來(lái)代(dài)表這(zhè)個(gè)實(shí)際顆粒(lì)的(dí)直(zhí)徑(jìng)；

（7）D10，累計分(fēn)布百分數達到(dào)10% 所對應的粒徑值(zhí)；

D50，累(léi)計分布百分(fēn)數達(dá)到(dào)50%時所對(duì)應的(dí)粒(lì)徑(jìng)值(zhí)；又稱中位(wèi)徑或(huò)中值粒徑(jìng)；

D90，累(léi)計(jì)分布(bù)百分數達到90%時(shí)所(suǒ)對應的(dí)粒徑值；

D（4,3）體(tǐ)積(jī)或質量粒(lì)徑平均值(zhí)；

常用(yòng)的粒度測量方法

（1）篩分(fēn)法

（2）沉(chén)降法(fǎ)（重力沉降(jiàng)法，離心(xīn)沉降(jiàng)法）

（3）電阻(zǔ)法（庫爾(ěr)特顆(kē)粒計數器）

（4）顯(xiǎn)微鏡(jìng)（圖像）法

（5）電(diàn)鏡法

（6）超聲波(bō)法

（7）透氣(qì)法(fǎ)

（8）激光(guāng)衍(yǎn)射法

各(gè)種(zhǒng)方法(fǎ)的優缺點(diǎn)

篩分(fēn)法
：優點(diǎn)
：簡(jiǎn)單，直觀，設(shè)備造價低(dī)，常用(yòng)於(yú)大(dà)於40μm的(dí)樣品(pǐn)。缺(quē)點
：不能(néng)用於(yú)40μm以(yǐ)細(xì)的樣品(pǐn)；結果受(shòu)人為(wéi)因素和篩孔變(biàn)形影(yǐng)響較大(dà)。

顯微鏡(jìng)法
：優點(diǎn)
：簡單(dān)，直(zhí)觀，可(kě)進行(háng)形貌分析(xī)。 缺(quē)點
：速度慢，代表性差，無(wú)法測超細(xì)顆(kē)粒。

沉(chén)降(jiàng)法（包(bāo)括(kuò)重(zhòng)力沉(chén)降(jiàng)和(hé)離心沉(chén)降）
：優點
：操作(zuò)簡便(biàn)，儀器(qì)可(kě)以連續運(yùn)行，價格(gé)低，準確(què)性和重復性較(jiào)好(hǎo)，測(cè)試(shì)範(fàn)圍(wéi)較(jiào)大。 缺(quē)點
：測(cè)試時間較(jiào)長(cháng)。

電(diàn)阻法(fǎ)
：優(yōu)點
：操(cāo)作(zuò)簡(jiǎn)便(biàn)，可測顆(kē)粒(lì)總數，等(děng)效概念明確，速(sù)度(dù)快，準確性好(hǎo)。 缺點
：測試範圍(wéi)較小(xiǎo)，小孔容(róng)易被顆(kē)粒堵塞(sāi)，介(jiè)質應具備(bèi)嚴(yán)格的導電特性(xìng)。

電(diàn)鏡法(fǎ)
：優點(diǎn)
：適合測試超(chāo)細(xì)顆粒甚至納米顆(kē)粒(lì)，分(fēn)辨率高(gāo)。 缺(quē)點
：樣品(pǐn)少，代表性差，儀(yí)器價格昂(áng)貴(guì)。

超聲波法
：優點(diǎn)
：可(kě)對高(gāo)濃(nóng)度漿料直(zhí)接測(cè)量(liáng)。 缺點
：分辨(biàn)率(shuài)較低。

透氣法
：優點
：儀(yí)器(qì)價(jià)格低(dī)，不用對樣品進行分(fēn)散，可(kě)測磁(cí)性材料粉(fěn)體(tǐ)。 缺(quē)點(diǎn)
：隻能(néng)得(dé)到平均(jūn)粒(lì)度(dù)值，不(bù)能(néng)測粒度(dù)分(fēn)布(bù)。

激(jī)光(guāng)法(fǎ)
：優點(diǎn)
：操作(zuò)簡便，測試速度(dù)快(kuài)，測(cè)試範(fàn)圍大，重(zhòng)復性和準(zhǔn)確性好，可進行在(zài)綫(xiàn)測量(liáng)和(hé)幹(gān)法測(cè)量(liáng)。 缺(quē)點(diǎn)
：結果(guǒ)受(shòu)分(fēn)布模(mó)型(xíng)影(yǐng)響較大